“镀层涂层测厚仪价格报价”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 品牌： | 科强 |
| 加工定制： | 否 | 测量范围： | 0-9mm |
| 测定对象： | 涂镀层 | 测量精度： | <3%±1um |
| 分辨率： | 0.1 | 电源： | 两节1.5v电池 |
| 尺寸： | 126mm*51mm*27mm | 重量： | 160g |
| 型号： | mc-2000 | 规格： | 数显 |
| 商标： | 科强 | 包装： | 塑料 |
| 产量： | 1000 |
“镀层涂层测厚仪价格报价”详细介绍
MC-2000D型涂（镀）层测厚仪仪器特点： MC-2000D涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：10～9000μm，它是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、可靠性高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。 MC-2000D型涂层测厚仪主要技术性能： 1、测量范围：10~9000um 2、测量误差：<3%±1um 3、最小示值：1um 4、显示方式：4位液晶数字显示 5、主要功能： （1）测量：单探头全量程测厚 （2）存储、删除：可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。 （3）读：读出已存入的测量数据涂层测厚仪，漆膜测厚仪，防腐层测厚仪，涂层测厚仪价格，涂层测厚仪厂家，山东涂层测厚仪 （4）统计：设有三个统计量，平均值最大值最小值 （5）校准：可进行系统校准 （6）电量：具有欠压显示功能 （7）打印：可打印测量值，选配微型打印机 （8）关机：具有自动关机和手动关机两种方法 6、电源：两节1.5v电池 7、功耗：最大功耗100mw 8、外形尺寸：126mm*51mm*27mm 9、重量：160g（含电池） 10、使用环境温度：0℃~＋40℃相对湿度：不大于90% 11、基体最小厚度：0.5mm 12、基体最小平面的直径：7mm
影响MC-2000D型涂层测厚仪测量结果的因素： a 基体金属磁性质 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。 b 基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。 c 基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。 d 边缘效应 本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。 e 曲率 试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。 f 试件的变形 测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。 g 表面粗糙度 基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。 g 磁场 周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。 h 附着物质 本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。 i 测头压力 测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。 j 测头的取向 测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。 更多济宁科强超声检测仪器有限公司涂层测厚仪，镀层测厚仪，漆膜测厚仪，油漆测厚仪，涂镀层测厚仪，电镀层测
影响MC-2000D型涂层测厚仪测量结果的因素： a 基体金属磁性质 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。 b 基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。 c 基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。 d 边缘效应 本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。 e 曲率 试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。 f 试件的变形 测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。 g 表面粗糙度 基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。 g 磁场 周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。 h 附着物质 本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。 i 测头压力 测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。 j 测头的取向 测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。 更多济宁科强超声检测仪器有限公司涂层测厚仪，镀层测厚仪，漆膜测厚仪，油漆测厚仪，涂镀层测厚仪，电镀层测
