“X-4 显微熔点仪”参数说明
| 分类： | 光学测试仪器 | 产量： | 40，000台/年 |
“X-4 显微熔点仪”详细介绍
特点：单目，温度传感器无小数点，放大倍数40倍。测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片——盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数：
■熔点测量范围室温至320℃
■测量重复性±1℃（在≤200℃时）±2℃（在200℃～300℃时）
■光学放大倍数目镜 10X 物镜 4X
主要技术参数：
■熔点测量范围室温至320℃
■测量重复性±1℃（在≤200℃时）±2℃（在200℃～300℃时）
■光学放大倍数目镜 10X 物镜 4X
